集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能的新型納米檢測顯微鏡，可以實現從50倍到100萬次的超寬范圍的觀察和測量，以及一種新型的在不失去鎖定的情況下實現納米級觀察目的是縮短從放置樣品到獲取圖像的工作時間。多合一模型，因此無需重新放置樣品，只要在一個設備上打開放大和觀察方法，它就可以靈活地響應新樣品。下面幾個方面來說說它的強大功能。
 

　　1、原子分辨率和穩定性。

　　2、大的樣品腔設計，適應性強。

　　3、主控制系統采用德州儀器（TI）32位高性能數字信號處理器（DSP）。

　　4、高壓掃描驅動器采用APEX集成高壓運算放大器。

　　5、主控制系統具有內置的實時操作系統。

　　6、系統使用FastEthernet連接到計算機。

　　納米檢測顯微鏡檢測過程可以立即獲得更直觀的外觀和豐富的細節，同時進行多通道信號采集和顯示，一次掃描即可同時獲得各種特性和樣本特征具有導出圖像和曲線數據的樂趣因此，可以獲得所有原始數據探針表征和圖像重建功能（針尖形貌估計/圖像重建/使用已知探針的圖像重建）。

　　1、全自動插入針頭，無需手動粗調。

　　2、只需更換探頭支架，即可在STM和AFM等不同類型的儀器之間進行切換。

　　3、全數字控制，智能識別和控制參數，例如儀器類型和系統狀態。

　　4、軟件控制的樣品移動。

　　5、納米檢測顯微鏡同時保存所有當前工作環境參數和掃描圖像。

　　6、樣品粒徑和粗糙度自動分析功能，與國家和標準相關的全套參數可用。