全光譜分光光度計

使用技術的20/30 PV不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或其他光源類型下的光譜，還同時提供了數(shù)字成像功能。美國CRAIC 20/30 顯微分光光度計系統(tǒng)，結合了顯微學和光譜學的優(yōu)勢，用于微小樣品或樣品的微小區(qū)域的光譜分析；微區(qū)光譜測試的范圍從深紫外到近紅外，同時也提供全波段的成像。具備*的光譜及圖像分析軟件、自動化的參數(shù)設置、簡單易用、能長時間穩(wěn)定工作等優(yōu)良特性。與上一代20/20PV 相比，具有更好的重復性和穩(wěn)定性，使得微區(qū)光譜范圍從2100nm延伸至2500nm，還有配備了自動光圈切換功能，使得自動化特點更為突出。現(xiàn)目前市場上，沒有一家公司能夠在顯微光譜分析條件下，能把光譜范圍做到200-2500nm,從紫外至近紅外全光譜波段。并且也是無光纖連接的系統(tǒng)，重復性和穩(wěn)定性大大提高，光譜線性也是非常漂亮。

全光譜分光光度計產(chǎn)品簡介

CRAIC 20/30 PV™全光譜顯微分光光度計

20/30 PV™ UV-Visible-NIR Microspectrophotometer

20/30 PV™可為用戶定制紫外-可見-近紅外分光光譜儀

創(chuàng)新性的20/30 PV™顯微分光光度計是CRAIC科技公司的儀器。它為您的需求打造，該定做儀器結合了光學、光譜學和軟件領域里的技術進步，能夠為您帶來*的速度和性能體驗。CRAIC儀器*是因為它的簡單易用，而這種易用性在這里甚至得到了改善，使得該設備成為*的紫外-可見-近紅外光顯微分光光度計。

20/30 PV™顯微分光光度計結合了的科技，允許用戶測量直徑小于1微米樣品區(qū)域的紫外-可見-近紅外光范圍內的透射比、吸光度、反射率、釋放強度和熒光光譜，即使是薄膜和色彩空間都能被檢測到。在獲得microspectra™（顯微光譜）的同時，可以觀察到樣品深紫色、可見光和近紅外光處高分辨率的數(shù)字圖像。易用的特點也附加到了20/30 PV™強大的系統(tǒng)中，包括了軟件自動化儀器人體工程學的所有進步。

20/30 PV™ 顯微分光光度計簡單易用，測量方法為非破壞性并且得到的光譜數(shù)據(jù)顯微分光光度計，可以無縫從深紫光到近紅外光區(qū)域獲得顯微樣品的光譜和圖像。它可以在吸光度、反射率和熒光性中獲得 microspectra™（顯微光譜）和圖像。與顯微分光光度計一起提供的還有用眼觀察樣品的 DirecVu™和高分辨率紫外-可見-近紅外光區(qū)域數(shù)字成像系統(tǒng)。

主要特點

紫外-可見-近紅外光顯微分光光譜儀

一個*整合的顯微分光計裝置，描述從深紫外光到可見光到近紅外光范圍的光譜。同時直接獲得樣品空隙的圖像，而且樣品的測量更快、更精確。20/30 PV™ 擁有Lightblades™科技的特點，甚至能夠讓您測量次微米級樣品的透射比、反射率、偏振和熒光光譜。

CRAIC科技也是NIST可追溯的顯微分光計標準的來源。

拉曼顯微分光光譜儀

靈活的拉曼顯微分光光譜儀

當20/30 PV™裝上CRAIC阿波羅™拉曼分光儀模塊后，它能像拉曼、共振拉曼以及其他測量顯微樣品的儀器一樣工作。這些模塊包括激光、拉曼分光計和界面光學，能讓您收集到樣品高質量的拉曼光譜。

熒光性

高靈敏度發(fā)射顯微分光計和成像系統(tǒng)

20/30 PV™可以被裝配成測量顯微樣品熒光和冷光光譜以及圖像的儀器。20/30 PV™擁有Lightblades科技的特點，能夠激發(fā)從深紫外到近紅外的光，能測出相同范圍的放射，它對于材料科學、生物學、地質學等學科的顯微熒光測定法來說是一款強大的工具。

偏振

紫外-可見-近紅外光顯微分光計和成像系統(tǒng)

20/30 PV™甚至可以被裝配成獲得偏振光譜和圖像的儀器。20/30 PV™顯微分光計擁有偏振Lightblades科技的特點和從紫外光到近紅外光的光譜范圍，它的性能是其他儀器無法達到的。用這個精細的系統(tǒng)您可以容易且迅速地獲得雙折射和其他有偏振特點的樣品的光譜和圖像。

光譜表面成像

光譜表面成像整合了為自動化光譜分析設計的軟硬件和帶有顯微空間解析度的樣品3D成像技術。樣品吸光度、透射比、反射率、熒光性、放射性和拉曼光譜這些數(shù)據(jù)的3D地圖也許能夠生成。

從紫外光到近紅外光的出眾圖像質量

20/30 PV™ 包含帶有研究級光學器件的紫外-可見-近紅外光顯微鏡，非常*。20/30 PV™ 擁有精細的成像軟件，帶有彩色、紫外線和近紅外光區(qū)域的高分辨數(shù)碼成像特點。這允許您簡單迅速地通過透射比、反射率、偏振和熒光顯微鏡來實時獲得樣品的圖像。

應用

l 半導體薄膜厚度（測量）

l  MEMS 設備

l  表面等離子體共振

l  光激能帶隙水晶

l  雜質加工檢測

l  蛋白質晶體

l  法庭科學

l  藥物化學

l  可疑文件

l  OLED

l  平板彩色面罩

l  組合化學